SAT(Scanning Acoustic Microscope)即超声波扫描显微镜,是利用超声波的反射和传输特性来检测材料内部的一种无损检测技术。它可以在固体或液体材料中自由传播,在材料界面、内部缺陷或材料变化的地方发生反射,对材料没有破坏性。SAT有脉冲回波成像和透射成像两种工作模式。应用场景包括电子元件检测、半导体失效分析、真伪辨别等。 A扫描模式,波形分析单点反射信号 A扫描模式是对单一检测点的波形进行分析。它发出超声脉冲保持在样品的一点上,从这点上的反射波获取信息。A扫描是构成后续几种扫描模式的基础。 B…